眾所周知，初試結束就會迎來復試，復試各個院校也會出大綱的，今天，為了方便考研的小伙伴們，小編為大家整理了“2021考研復試大綱：哈爾濱理工大學理學院2020年碩士研究生招生考試復試科目大綱及參考書目”的相關內容，希望對大家有所幫助！
半導體物理
物理光學
適用專業名稱：應用物理、材料物理、微電子、光電技術
參考書目：
《物理光學與應用光學》石順祥 西安電子科技大學出版社 第二版
《大學物理學》下冊 趙近芳 北郵出版社。
一、考試目的與要求
測試考生掌握物理光學基本原理和基本方法，以及分析和解決問題的能力。考生應能夠運用基本原理和方法，初步具備解決物理光學中的基本問題的能力。
二、試卷結構（滿分100分）
物理光學 100分
題型比例：
1． 計算題 約80分
2． 分析論證題 約20分
三、考試內容與要求
1.光掌握光程 相干光 雙縫干涉
2.掌握等傾干涉
3.掌握等厚干涉 邁克爾遜干涉儀
4.掌握單縫的夫瑯和費衍射
5.了解圓孔的夫瑯和費衍射 光學儀器的分辨本領
6.掌握光柵衍射 X射線衍射
7.掌握自然光和偏振光 起偏和檢偏 馬呂斯定律 布儒斯特定律
8.掌握反射和折射時光的偏振 光的雙折射
9.掌握愛因斯坦光子理論 光電效應 康普頓效應
四、備注
需使用不帶記憶功能的科學計算器
半導體物理
適用專業名稱：電子信息類（0854）集成電路工程方向
參考書目：
《半導體物理學》劉恩科 朱秉升 羅晉生 電子工業出版社2011 第七版
一、 考試目的與要求
考察考生對半導體物理的基本概念、基本原理和基本方法的掌握程度和利用基礎知識解決電子科學與技術相關問題的能力。要求考生對半導體物理的基本概念有較深入的了解，能夠系統地掌握半導體物理中基本定律的推導、證明和應用，并具有綜合運用所學知識分析問題和解決問題的能力。
二、 試卷結構（滿分100分）
半導體物理 100分
題型比例：
1．名詞解釋 約20分
2．簡答題 約40分
3．計算題 約40分
三、考試內容與要求
（一）半導體的晶格結構和電子狀態
考試內容
半導體的晶格結構和結合性質，半導體中的電子狀態和能帶，半導體中的電子運動和有效質量，本征半導體的導電機構，空穴，硅和鍺及III－V族化合物半導體的能帶結構。
考試要求
1．了解半導體的晶格結構和結合性質的基本概念。
2．理解半導體中的電子狀態和能帶的基本概念。
3．掌握半導體中的電子運動規律，理解有效質量的意義。
4．理解本征半導體的導電機構，理解空穴的概念。
5．理解硅和鍺的能帶結構，掌握有效質量的計算方法。
6．了解III－V族化合物半導體的能帶結構。
（二）半導體中雜質和缺陷能級
考試內容
半導硅、鍺晶體中的雜質能級。
考試要求
1．理解替位式雜質、間隙式雜質、施主雜質、施主能級、受主雜質、受主能級的概念。
2．簡單計算淺能級雜質電離能。
3．了解雜質的補償作用、深能級雜質的概念。
（三）半導體中載流子的統計分布
考試內容
狀態密度，費米能級和載流子的統計分布，本征半導體的載流子濃度，雜質半導體的載流子濃度，一般情況下的載流子統計分布，簡并半導體。
考試要求
1．理解并熟練掌握狀態密度的概念和表示方法。
2．理解并熟練掌握費米能級和載流子的統計分布。
3．理解并熟練掌握本征半導體的載流子濃度的概念和表示方法。
4．理解并熟練掌握雜質半導體的載流子濃度的概念和表示方法。
5．理解并掌握一般情況下的載流子統計分布。
6．理解并熟練掌握簡并半導體的概念，簡并半導體的載流子濃度的表示方法，簡并化條件。了解禁帶變窄效應。
（四）半導體的導電性
考試內容
載流子的漂移運動，遷移率，載流子的散射，遷移率與雜質濃度和溫度的關系，電阻率及其與雜質濃度和溫度的關系，強電場下的效應，熱載流子。
考試要求
1．理解遷移率的概念。并熟練掌握載流子的漂移運動。
2．理解載流子的散射的概念。
參考書目：
《半導體物理學》劉恩科 朱秉升 羅晉生 電子工業出版社2011 第七版
一、 考試目的與要求
考察考生對半導體物理的基本概念、基本原理和基本方法的掌握程度和利用基礎知識解決電子科學與技術相關問題的能力。要求考生對半導體物理的基本概念有較深入的了解，能夠系統地掌握半導體物理中基本定律的推導、證明和應用，并具有綜合運用所學知識分析問題和解決問題的能力。
二、 試卷結構（滿分100分）
半導體物理 100分
題型比例：
1．名詞解釋 約20分
2．簡答題 約40分
3．計算題 約40分
三、考試內容與要求
（一）半導體的晶格結構和電子狀態
考試內容
半導體的晶格結構和結合性質，半導體中的電子狀態和能帶，半導體中的電子運動和有效質量，本征半導體的導電機構，空穴，硅和鍺及III－V族化合物半導體的能帶結構。
考試要求
1．了解半導體的晶格結構和結合性質的基本概念。
2．理解半導體中的電子狀態和能帶的基本概念。
3．掌握半導體中的電子運動規律，理解有效質量的意義。
4．理解本征半導體的導電機構，理解空穴的概念。
5．理解硅和鍺的能帶結構，掌握有效質量的計算方法。
6．了解III－V族化合物半導體的能帶結構。
（二）半導體中雜質和缺陷能級
考試內容
半導硅、鍺晶體中的雜質能級。
考試要求
1．理解替位式雜質、間隙式雜質、施主雜質、施主能級、受主雜質、受主能級的概念。
2．簡單計算淺能級雜質電離能。
3．了解雜質的補償作用、深能級雜質的概念。
（三）半導體中載流子的統計分布
考試內容
狀態密度，費米能級和載流子的統計分布，本征半導體的載流子濃度，雜質半導體的載流子濃度，一般情況下的載流子統計分布，簡并半導體。
考試要求
1．理解并熟練掌握狀態密度的概念和表示方法。
2．理解并熟練掌握費米能級和載流子的統計分布。
3．理解并熟練掌握本征半導體的載流子濃度的概念和表示方法。
4．理解并熟練掌握雜質半導體的載流子濃度的概念和表示方法。
5．理解并掌握一般情況下的載流子統計分布。
6．理解并熟練掌握簡并半導體的概念，簡并半導體的載流子濃度的表示方法，簡并化條件。了解禁帶變窄效應。
（四）半導體的導電性
考試內容
載流子的漂移運動，遷移率，載流子的散射，遷移率與雜質濃度和溫度的關系，電阻率及其與雜質濃度和溫度的關系，強電場下的效應，熱載流子。
考試要求
1．理解遷移率的概念。并熟練掌握載流子的漂移運動。
2．理解載流子的散射的概念。
材料分析測試技術
適用專業名稱：材料物理與化學
參考書目：
《材料分析測試技術》，周玉、 武高輝，哈爾濱工業大學出版社，2007年；
《材料分析測試技術》，齊海群，北京大學出版，2010年；
《材料分析測試方法》黃新民、解挺，國防工業出版社，2006年。
一、考試目的與要求
測試考生掌握材料分析測試技術的基本原理和基本方法，以及采用x射線衍射和電子顯微鏡來分析材料的微觀組織結構與顯微成分的能力。要求考生全面系統地掌握材料現代檢測技術（x射線衍射技術及在材料中的應用、電子顯微分析技術及在材料中的應用）的基本概念和基本原理，并能夠對基本原理進行靈活運用，具有較強的材料檢測分析問題、解決問題的能力。
二、試卷結構（滿分100分）
內容比例：
x射線衍射技術 約50分
電子顯微分析技術 約50分
題型比例：
1．概念題 約30分
2．簡答題 約40分
3．計算題 約10分
4．綜合分析題 約20分
三、考試內容與要求
（一）X射線分析測試技術
考試內容
X射線性質，X射線方向，X射線衍射強度，X射線物相分析，多晶體分析方法，宏觀應力的測定。
考試要求
1. 了解X射線的產生、X射線與物質相互作用時產生的各種物理效應；
2. 掌握布拉格方程和倒易點陣，能夠運用Ewald圖解進行衍射分析、能計算各種不同空間點陣的晶體、有序－無序固溶體以及粉末多晶的結構因子和X射線衍射強度；
3. 掌握德拜照相法和X射線衍射儀法的基本原理、了解其實驗裝置、掌握其試樣制備方法和實驗方法；
4. 熟練掌握X射線衍射在點陣常數的精確測定、多晶體物相分析、宏觀應力的測定、晶粒大小的測定、單晶體取向的測定等方面的應用。
（二）電子顯微分析技術
考試內容
電子衍射，電子顯微圖像，透射電子顯微鏡，晶體薄膜衍襯成像分析，掃描電子顯微鏡。
考試要求
1. 掌握電子衍射基本原理及衍射基本公式、有效相機常數。
2. 熟悉單晶、多晶和非晶體的電子衍射圖特征；
3. 了解兩種選區衍射方法(光闌選區衍射和微束選區衍射)，
5. 掌握單晶以及多晶電子衍射花樣的標定方法和標定步驟;
6. 了解復雜衍射花樣（高階勞厄斑點，超點陣斑點，二次衍射斑點，孿晶斑點，菊池線）；
7. 理解電子顯微圖像的質厚襯度原理；
8. 理解衍射襯度原理、掌握衍襯運動學理論并能做簡單的衍射波強度計算、熟悉衍襯圖像的基本特征；
9. 理解高分辨透射電子顯微術的相位襯度原理；
10. 熟練掌握透射電子顯微鏡的基本結構、工作原理以及樣品制備方法；
11.理解電子束與固體樣品作用時產生的信號，了解掃描電子顯微鏡的構造、性能參數和工作原理；熟悉掃描電子顯微鏡樣品的制備方法；
12. 掌握二次電子成像原理和二次電子形貌襯度的應用、掌握原子序數襯度原理及其應用、掌握背散射電子襯度原理及其應用；
13. 了解STM和AFM的分析測試原理、掌握STM和AFM在材料分析工作中的應用。
適用專業名稱：材料物理與化學
參考書目：
《材料分析測試技術》，周玉、 武高輝，哈爾濱工業大學出版社，2007年；
《材料分析測試技術》，齊海群，北京大學出版，2010年；
《材料分析測試方法》黃新民、解挺，國防工業出版社，2006年。
一、考試目的與要求
測試考生掌握材料分析測試技術的基本原理和基本方法，以及采用x射線衍射和電子顯微鏡來分析材料的微觀組織結構與顯微成分的能力。要求考生全面系統地掌握材料現代檢測技術（x射線衍射技術及在材料中的應用、電子顯微分析技術及在材料中的應用）的基本概念和基本原理，并能夠對基本原理進行靈活運用，具有較強的材料檢測分析問題、解決問題的能力。
二、試卷結構（滿分100分）
內容比例：
x射線衍射技術 約50分
電子顯微分析技術 約50分
題型比例：
1．概念題 約30分
2．簡答題 約40分
3．計算題 約10分
4．綜合分析題 約20分
三、考試內容與要求
（一）X射線分析測試技術
考試內容
X射線性質，X射線方向，X射線衍射強度，X射線物相分析，多晶體分析方法，宏觀應力的測定。
考試要求
1. 了解X射線的產生、X射線與物質相互作用時產生的各種物理效應；
2. 掌握布拉格方程和倒易點陣，能夠運用Ewald圖解進行衍射分析、能計算各種不同空間點陣的晶體、有序－無序固溶體以及粉末多晶的結構因子和X射線衍射強度；
3. 掌握德拜照相法和X射線衍射儀法的基本原理、了解其實驗裝置、掌握其試樣制備方法和實驗方法；
4. 熟練掌握X射線衍射在點陣常數的精確測定、多晶體物相分析、宏觀應力的測定、晶粒大小的測定、單晶體取向的測定等方面的應用。
（二）電子顯微分析技術
考試內容
電子衍射，電子顯微圖像，透射電子顯微鏡，晶體薄膜衍襯成像分析，掃描電子顯微鏡。
考試要求
1. 掌握電子衍射基本原理及衍射基本公式、有效相機常數。
2. 熟悉單晶、多晶和非晶體的電子衍射圖特征；
3. 了解兩種選區衍射方法(光闌選區衍射和微束選區衍射)，
5. 掌握單晶以及多晶電子衍射花樣的標定方法和標定步驟;
6. 了解復雜衍射花樣（高階勞厄斑點，超點陣斑點，二次衍射斑點，孿晶斑點，菊池線）；
7. 理解電子顯微圖像的質厚襯度原理；
8. 理解衍射襯度原理、掌握衍襯運動學理論并能做簡單的衍射波強度計算、熟悉衍襯圖像的基本特征；
9. 理解高分辨透射電子顯微術的相位襯度原理；
10. 熟練掌握透射電子顯微鏡的基本結構、工作原理以及樣品制備方法；
11.理解電子束與固體樣品作用時產生的信號，了解掃描電子顯微鏡的構造、性能參數和工作原理；熟悉掃描電子顯微鏡樣品的制備方法；
12. 掌握二次電子成像原理和二次電子形貌襯度的應用、掌握原子序數襯度原理及其應用、掌握背散射電子襯度原理及其應用；
13. 了解STM和AFM的分析測試原理、掌握STM和AFM在材料分析工作中的應用。
常微分方程
試用專業名稱：數學
參考書目：
《常微分方程》，王高雄等編，高等教育出版社，2006年
《常微分方程》，東北師范大學微分方程教研室，高等教育出版社，2005年
一、 考試目的與要求
測試考生掌握微分方程的基本理論，基本解法的掌握程度，重點測試考生求解常微分方程的能力及基本定理的簡單應用能力。
二、 試卷結構（滿分100分）
內容比例：
一階微分方程的解法 約40分
高階微分方程的解法及解的結構 約50分
微分方程基本定理的運用 約10分
題型比例：
1．計算題 約60分
2．分析論述題 約40分
三、考試內容與要求
（一）微分方程基本概念
考試內容 微分方程基本概念，解的定義，微分方程解的幾何意義。
考試要求
1. 了解基本概念：微分方程通解，初值問題。
2. 掌握微分方程解的幾何意義。
（二）一階微分方程及一階常微分方程解得基本定理
考試內容
分離變量方程與變量變換，一階線性方程與常數變易法，積分因子法與恰當方程。 一階微分方程解的存在唯一定理，解的延拓定理，解對初值連續依賴定理。
考試要求
1. 理解分離變量方程，一階線性微分方程，恰當方程；解得存在唯一性，延拓，解對初值依賴定理。
2. 掌握分離變量法，常數變易法，積分因子法；解的存在唯一定理及逐步逼近求解法。
（三）高階微分方程及線性微分方程組
考試內容
線性微分方程求解方法及常系數線性方程求解方法，高階微分方程降階法；常系數線性方程組求解方法。
考試要求
1. 熟練掌握常系數線性微分方程求解方法；
2. 掌握常系數線性微分方程組基解矩陣的求法；
了解微分方程及微分方程組解的一般理論。
試用專業名稱：數學
參考書目：
《常微分方程》，王高雄等編，高等教育出版社，2006年
《常微分方程》，東北師范大學微分方程教研室，高等教育出版社，2005年
一、 考試目的與要求
測試考生掌握微分方程的基本理論，基本解法的掌握程度，重點測試考生求解常微分方程的能力及基本定理的簡單應用能力。
二、 試卷結構（滿分100分）
內容比例：
一階微分方程的解法 約40分
高階微分方程的解法及解的結構 約50分
微分方程基本定理的運用 約10分
題型比例：
1．計算題 約60分
2．分析論述題 約40分
三、考試內容與要求
（一）微分方程基本概念
考試內容 微分方程基本概念，解的定義，微分方程解的幾何意義。
考試要求
1. 了解基本概念：微分方程通解，初值問題。
2. 掌握微分方程解的幾何意義。
（二）一階微分方程及一階常微分方程解得基本定理
考試內容
分離變量方程與變量變換，一階線性方程與常數變易法，積分因子法與恰當方程。 一階微分方程解的存在唯一定理，解的延拓定理，解對初值連續依賴定理。
考試要求
1. 理解分離變量方程，一階線性微分方程，恰當方程；解得存在唯一性，延拓，解對初值依賴定理。
2. 掌握分離變量法，常數變易法，積分因子法；解的存在唯一定理及逐步逼近求解法。
（三）高階微分方程及線性微分方程組
考試內容
線性微分方程求解方法及常系數線性方程求解方法，高階微分方程降階法；常系數線性方程組求解方法。
考試要求
1. 熟練掌握常系數線性微分方程求解方法；
2. 掌握常系數線性微分方程組基解矩陣的求法；
了解微分方程及微分方程組解的一般理論。
電磁學
適用專業名稱：電子科學與技術
參考書目：
《電磁學》趙凱華 陳熙謀 高等教育出版社2006 第二版
一、考試目的與要求
考察考生對電磁學的基本現象和基本定律的掌握程度以及利用基礎知識解決電子科學與技術相關問題的能力。要求考生對電磁學的基本概念和基本定律有較深入的了解，能夠系統地掌握電磁學中基本定律的推導和應用，并具有綜合運用所學知識分析問題和解決問題的能力。
二、試卷結構（滿分100分）
電磁學 100分
題型比例：
1．選擇題 約30分
2．計算題 約70分
三、考試內容與要求
（一）靜電場的基本現象和基本規律
考試內容
靜電的基本現象，庫侖定律，電場，電場強度，電通量，高斯定理，環路定理，靜電場做功，電勢及其梯度。
考試要求
1．了解靜電的基本現象。
2．理解靜電感應、電荷守恒定律和庫倫定律等基本概念和定律。
3．掌握電場及電場強度的概念。
4．掌握應用電場強度疊加定理計算帶電體產生的電場強度的方法并能靈活應用。
5．理解電通量的概念，掌握高斯定理的表述和證明。
6．掌握應用高斯定理求電場的條件和方法，并能靈活應用。
7．掌握電場線的性質。
8．理解靜電場環路定理和電勢的概念。
9．掌握電場和電勢之間的關系。
10．掌握電勢的計算方法。
（二）靜電場中的導體
考試內容
導體的靜電平衡條件，導體（導體殼）的電荷分布，孤立導體的電容，電容器及電容，電容器儲能。
考試要求
1．理解和掌握靜電場中導體的平衡條件。
2．簡單計算導體和導體殼的電荷分布。
3．掌握電容器中電場、電勢以及電容的計算方法，并能靈活應用。
4．理解電容器儲能的概念。
（三）靜電場中的電介質
考試內容
電介質極化現象，極化的微觀機制，極化強度矢量，退極化場，極化率，極化電荷，電位移矢量，高斯定理。
考試要求
1．了解電介質的極化，掌握極化的微觀機制。
2．理解極化強度矢量和退極化場的概念。
3．理解極化電荷的概念，掌握極化電荷與極化強度矢量之間的關系。
4．理解并熟練掌握有電介質的高斯定理，并能夠靈活應用。
5．理解并掌握電位移矢量與電場及極化強度矢量之間的關系。
（四）恒磁場
考試內容
磁感應強度，比奧-薩伐爾定律，載流回路的磁場，安培環路定理，磁場高斯定理，磁場對載流導線的作用，帶電粒子在磁場中的運動。
考試要求
1．了解磁的基本現象，理解磁感應強度的概念。
2．掌握畢奧薩-伐爾定律和安培定律。
3．能夠運用畢奧-薩伐爾定律計算不同載流回路的磁感應強度。
4．掌握安培環路定理及采用安培環路定理計算載流導線產生磁場的條件和方法。
5．了解磁場高斯定理，并掌握磁場線的性質。
6．掌握磁場對載流導線的作用。
7．掌握帶電粒子在磁場中的運動，理解安培力與洛倫茲力間的關系。
8．了解霍爾效應的概念，掌握利用霍爾效應判別導電類型的方法。
（五）電磁感應
考試內容
法拉第定律，楞次定律，動生電動勢，感生電動勢，互感和自感。
考試要求
1．了解基本的電磁感應現象。
2．理解法拉第定律，掌握采用法拉第定律計算電動勢大小和方向的方法。
3．理解楞次定律，并能夠判別電動勢的方向。
4．理解動生電動勢的概念，掌握動生電動勢的計算方法。
5．理解感生電動勢的概念，掌握感應電動勢的計算方法。
6．掌握交流發電機的基本原理，了解渦旋電場的概念。
7．理解互感和自感的概念，掌握互感和自感的計算方法并能靈活運用。
四、備注
需使用不帶記憶功能的科學計算器
適用專業名稱：電子科學與技術
參考書目：
《電磁學》趙凱華 陳熙謀 高等教育出版社2006 第二版
一、考試目的與要求
考察考生對電磁學的基本現象和基本定律的掌握程度以及利用基礎知識解決電子科學與技術相關問題的能力。要求考生對電磁學的基本概念和基本定律有較深入的了解，能夠系統地掌握電磁學中基本定律的推導和應用，并具有綜合運用所學知識分析問題和解決問題的能力。
二、試卷結構（滿分100分）
電磁學 100分
題型比例：
1．選擇題 約30分
2．計算題 約70分
三、考試內容與要求
（一）靜電場的基本現象和基本規律
考試內容
靜電的基本現象，庫侖定律，電場，電場強度，電通量，高斯定理，環路定理，靜電場做功，電勢及其梯度。
考試要求
1．了解靜電的基本現象。
2．理解靜電感應、電荷守恒定律和庫倫定律等基本概念和定律。
3．掌握電場及電場強度的概念。
4．掌握應用電場強度疊加定理計算帶電體產生的電場強度的方法并能靈活應用。
5．理解電通量的概念，掌握高斯定理的表述和證明。
6．掌握應用高斯定理求電場的條件和方法，并能靈活應用。
7．掌握電場線的性質。
8．理解靜電場環路定理和電勢的概念。
9．掌握電場和電勢之間的關系。
10．掌握電勢的計算方法。
（二）靜電場中的導體
考試內容
導體的靜電平衡條件，導體（導體殼）的電荷分布，孤立導體的電容，電容器及電容，電容器儲能。
考試要求
1．理解和掌握靜電場中導體的平衡條件。
2．簡單計算導體和導體殼的電荷分布。
3．掌握電容器中電場、電勢以及電容的計算方法，并能靈活應用。
4．理解電容器儲能的概念。
（三）靜電場中的電介質
考試內容
電介質極化現象，極化的微觀機制，極化強度矢量，退極化場，極化率，極化電荷，電位移矢量，高斯定理。
考試要求
1．了解電介質的極化，掌握極化的微觀機制。
2．理解極化強度矢量和退極化場的概念。
3．理解極化電荷的概念，掌握極化電荷與極化強度矢量之間的關系。
4．理解并熟練掌握有電介質的高斯定理，并能夠靈活應用。
5．理解并掌握電位移矢量與電場及極化強度矢量之間的關系。
（四）恒磁場
考試內容
磁感應強度，比奧-薩伐爾定律，載流回路的磁場，安培環路定理，磁場高斯定理，磁場對載流導線的作用，帶電粒子在磁場中的運動。
考試要求
1．了解磁的基本現象，理解磁感應強度的概念。
2．掌握畢奧薩-伐爾定律和安培定律。
3．能夠運用畢奧-薩伐爾定律計算不同載流回路的磁感應強度。
4．掌握安培環路定理及采用安培環路定理計算載流導線產生磁場的條件和方法。
5．了解磁場高斯定理，并掌握磁場線的性質。
6．掌握磁場對載流導線的作用。
7．掌握帶電粒子在磁場中的運動，理解安培力與洛倫茲力間的關系。
8．了解霍爾效應的概念，掌握利用霍爾效應判別導電類型的方法。
（五）電磁感應
考試內容
法拉第定律，楞次定律，動生電動勢，感生電動勢，互感和自感。
考試要求
1．了解基本的電磁感應現象。
2．理解法拉第定律，掌握采用法拉第定律計算電動勢大小和方向的方法。
3．理解楞次定律，并能夠判別電動勢的方向。
4．理解動生電動勢的概念，掌握動生電動勢的計算方法。
5．理解感生電動勢的概念，掌握感應電動勢的計算方法。
6．掌握交流發電機的基本原理，了解渦旋電場的概念。
7．理解互感和自感的概念，掌握互感和自感的計算方法并能靈活運用。
四、備注
需使用不帶記憶功能的科學計算器
概率論與數理統計
適用專業名稱：數學
參考書目：
《概率論與數理統計》第四版，盛驟等編，高等教育出版社，2008年
《概率論與數理統計教程》第二版， 茆詩松等編，高等教育出版社，2011年
一、考試目的與要求
測試考生概率論基本理論的掌握程度，重點測試考生對隨機變量及其分布的認識，隨機變量的分布及其數字特征的求解能力及概率論的簡單應用能力。
二、試卷結構（滿分100分）
內容比例：
概率的定義和性質，條件概率和獨立性 約20分
隨機變量及其分布 約40分
多維隨機變量及其分布 約30分
大數定律和中心極限定理 約10 分
題型比例：
1．計算題 約 80 分
2．分析論述題 約 20分
三、考試內容與要求
（一）隨機事件及概率
考試內容 概率的定義，性質，條件概率，全概率公式和貝葉斯公式，事件的獨立性。
考試要求
1. 能夠利用概率的性質計算事件的概率；
2. 掌握條件概率公式，全概率公式和貝葉斯公式及其應用；
3. 理解掌握事件的獨立性.
（二）隨機變量及其分布
考試內容
一維隨機變量的分布，常見離散型隨機變量及其分布，常見連續性隨機變量及其分布，隨機變量的數字特征，離散型和連續型隨機變量函數的分布，切比雪夫不等式。
考試要求
1. 熟練掌握一維隨機變量及其分布函數的定義，離散型和連續型隨機變量分布函數的求解方法；
2. 熟練掌握常見離散型隨機變量的分布；
3. 熟練掌握常見連續型隨機變量的分布；
4. 熟練掌握隨機變量數字特征的定義，性質和求解方法；
3. 理解切比雪夫不等式及其應用.
（三）多維隨機變量及其分布
考試內容
二維隨機變量的聯合分布，邊緣分布和條件分布，隨機變量的獨立性，二維隨機變量函數的分布，二維隨機變量的數字特征。
考試要求
3. 掌握二維離散型和連續型隨機變量的聯合分布；
4. 掌握二維離散型和連續型隨機變量的邊緣分布；
5. 了解二維離散型和連續型隨機變量的條件分布；
6. 熟練掌握隨機變量的獨立性；
7. 熟練掌握二維隨機變量數字特征的定義，性質和求解方法；
8. 了解二維隨機變量函數的分布及其二維隨機變量函數的數字特征.
（四）大數定律和中心極限定理
考試內容
大數定律，中心極限定理。
考試要求
1. 理解大數定律及其應用；
2. 理解中心極限定理及其應用
適用專業名稱：數學
參考書目：
《概率論與數理統計》第四版，盛驟等編，高等教育出版社，2008年
《概率論與數理統計教程》第二版， 茆詩松等編，高等教育出版社，2011年
一、考試目的與要求
測試考生概率論基本理論的掌握程度，重點測試考生對隨機變量及其分布的認識，隨機變量的分布及其數字特征的求解能力及概率論的簡單應用能力。
二、試卷結構（滿分100分）
內容比例：
概率的定義和性質，條件概率和獨立性 約20分
隨機變量及其分布 約40分
多維隨機變量及其分布 約30分
大數定律和中心極限定理 約10 分
題型比例：
1．計算題 約 80 分
2．分析論述題 約 20分
三、考試內容與要求
（一）隨機事件及概率
考試內容 概率的定義，性質，條件概率，全概率公式和貝葉斯公式，事件的獨立性。
考試要求
1. 能夠利用概率的性質計算事件的概率；
2. 掌握條件概率公式，全概率公式和貝葉斯公式及其應用；
3. 理解掌握事件的獨立性.
（二）隨機變量及其分布
考試內容
一維隨機變量的分布，常見離散型隨機變量及其分布，常見連續性隨機變量及其分布，隨機變量的數字特征，離散型和連續型隨機變量函數的分布，切比雪夫不等式。
考試要求
1. 熟練掌握一維隨機變量及其分布函數的定義，離散型和連續型隨機變量分布函數的求解方法；
2. 熟練掌握常見離散型隨機變量的分布；
3. 熟練掌握常見連續型隨機變量的分布；
4. 熟練掌握隨機變量數字特征的定義，性質和求解方法；
3. 理解切比雪夫不等式及其應用.
（三）多維隨機變量及其分布
考試內容
二維隨機變量的聯合分布，邊緣分布和條件分布，隨機變量的獨立性，二維隨機變量函數的分布，二維隨機變量的數字特征。
考試要求
3. 掌握二維離散型和連續型隨機變量的聯合分布；
4. 掌握二維離散型和連續型隨機變量的邊緣分布；
5. 了解二維離散型和連續型隨機變量的條件分布；
6. 熟練掌握隨機變量的獨立性；
7. 熟練掌握二維隨機變量數字特征的定義，性質和求解方法；
8. 了解二維隨機變量函數的分布及其二維隨機變量函數的數字特征.
（四）大數定律和中心極限定理
考試內容
大數定律，中心極限定理。
考試要求
1. 理解大數定律及其應用；
2. 理解中心極限定理及其應用
固體物理
適用專業名稱：物理學
參考書目：
《固體物理教程》 王矜奉 山東大學出版社
《固體物理學》 黃昆 人民教育出版社
一、考試目的與要求
測試考生對固體物理學的基本概念、基本原理和基本方法的掌握程度和利用基礎知識解決固體的熱學、力學和電學等領域相關問題的能力。試卷結構（滿分100分）
內容比例：
晶體結構、倒易點陣 約20分
晶體結合 約10分
晶格振動與熱學性質 約20分
晶體缺陷 約10分
固體電子能帶論 約20分
自由電子論與電子的輸運性質 約20分
題型比例：
1．概念題 約30分
2．簡答題 約30分
3．綜合運用題 約40分
二、考試內容與要求
（一）晶體結構、倒易點陣
考試內容
晶體結構、倒易點陣和晶體的對稱性
考試要求
1.晶胞，晶向與晶面指數，典型的晶體結構；
2.倒易點陣與布里淵區；
3.晶體的對稱性。
（二）晶體結合
考試內容
晶體的結合類型及基本特點。
考試要求
1.晶體的五種結合類型；
2.離子晶體的內能，馬德隆常數、離子半徑；
3.分子晶體內能，Lenard-Jeans勢。
（三）晶體的振動與熱容理論
考試內容
一維單原子鏈與雙原子鏈的振動和固體熱容的理論。
考試要求
1.熟練掌握一維原子鏈的振動方程的建立與求解；
2.深刻理解玻恩卡曼條件；
3.熟練掌握簡正振動與聲子的概念；
4.掌握模式密度的基本概念；
5.熟練掌握固體熱容的德拜模型與愛因斯坦模型；
6.掌握非簡諧效應。
（四）晶體的缺陷
考試內容
晶體的缺陷類型與點缺陷的統計理論
考試要求
1.掌握晶體缺陷的類型及特點；
2.掌握熱缺陷的統計理論；
3.掌握熱缺陷的擴散規律。
（五）固體電子的能帶理論
考試內容
布洛赫定理，近自由電子模型和緊束縛模型
考試要求
1.掌握布洛赫定理的證明；
2.掌握近自由電子模型；
3.掌握平面波模型；
4.掌握緊束縛模型；
5.掌握布洛赫電子在電場中的速度、加速度和有效質量；
6.掌握態密度等基本概念。
（六）固體電子的能帶理論
考試內容
電子氣的費米理論與電子的輸運性質
考試要求
1.掌握電子氣的費米能與電子的熱容量；
2.電子氣的玻爾茲曼方程；
3.金屬電阻率的統計模型。
適用專業名稱：物理學
參考書目：
《固體物理教程》 王矜奉 山東大學出版社
《固體物理學》 黃昆 人民教育出版社
一、考試目的與要求
測試考生對固體物理學的基本概念、基本原理和基本方法的掌握程度和利用基礎知識解決固體的熱學、力學和電學等領域相關問題的能力。試卷結構（滿分100分）
內容比例：
晶體結構、倒易點陣 約20分
晶體結合 約10分
晶格振動與熱學性質 約20分
晶體缺陷 約10分
固體電子能帶論 約20分
自由電子論與電子的輸運性質 約20分
題型比例：
1．概念題 約30分
2．簡答題 約30分
3．綜合運用題 約40分
二、考試內容與要求
（一）晶體結構、倒易點陣
考試內容
晶體結構、倒易點陣和晶體的對稱性
考試要求
1.晶胞，晶向與晶面指數，典型的晶體結構；
2.倒易點陣與布里淵區；
3.晶體的對稱性。
（二）晶體結合
考試內容
晶體的結合類型及基本特點。
考試要求
1.晶體的五種結合類型；
2.離子晶體的內能，馬德隆常數、離子半徑；
3.分子晶體內能，Lenard-Jeans勢。
（三）晶體的振動與熱容理論
考試內容
一維單原子鏈與雙原子鏈的振動和固體熱容的理論。
考試要求
1.熟練掌握一維原子鏈的振動方程的建立與求解；
2.深刻理解玻恩卡曼條件；
3.熟練掌握簡正振動與聲子的概念；
4.掌握模式密度的基本概念；
5.熟練掌握固體熱容的德拜模型與愛因斯坦模型；
6.掌握非簡諧效應。
（四）晶體的缺陷
考試內容
晶體的缺陷類型與點缺陷的統計理論
考試要求
1.掌握晶體缺陷的類型及特點；
2.掌握熱缺陷的統計理論；
3.掌握熱缺陷的擴散規律。
（五）固體電子的能帶理論
考試內容
布洛赫定理，近自由電子模型和緊束縛模型
考試要求
1.掌握布洛赫定理的證明；
2.掌握近自由電子模型；
3.掌握平面波模型；
4.掌握緊束縛模型；
5.掌握布洛赫電子在電場中的速度、加速度和有效質量；
6.掌握態密度等基本概念。
（六）固體電子的能帶理論
考試內容
電子氣的費米理論與電子的輸運性質
考試要求
1.掌握電子氣的費米能與電子的熱容量；
2.電子氣的玻爾茲曼方程；
3.金屬電阻率的統計模型。
光纖通信
適用專業名稱：光學工程(0803)、電子信息類（0854）光學工程方向
參考書目：
《光纖通信》（第二版）劉增基主編西安電子科技大學出版社，2008年版；《光纖通信》（第三版）Gerd Keiser著（李玉權等譯），電子工業出版社，2002年版
一、考試目的與要求
掌握光纖的傳輸理論，光纜結構及特點，無源光器件的原理及性能，光源和光檢測器的工作原理及特性，光纖放大器的工作原理及結構，光纖通信系統的組成、性能指標及系統的設計，掌握摻餌光纖放大器、波分復用技術等光纖通信新技術的原理與應用。
二、試卷結構（滿分100分）
內容比例：
1．光纖線路約30%
2．光端機約30%
3．光纖通信系統約30%
4．光纖通信新技術約10%
題型比例：
1．概念題（包括填空與簡答）約40%
2．基本理論與規律的論述及推導約20%
3．計算題約20%
4．應用題約20%
三、考試內容與要求
（一）光纖
了解光纖結構和類型；掌握數值孔徑、傳播時延、時延差的概念及影響因素；理解波動方程及其解，導波模模式；掌握光纖單模傳輸條件；掌握光纖的衰減、色散與帶寬的關系；理解色散補償方案；了解光纖傳輸中的非線性效應；了解光纖制作，光纖產品和特性。
（二）光源和光發射機
了解光源器件的結構；掌握半導體激光器（LD）和半導體發光二極管（LED）的工作原理；理解LD、LED的特性和類型；了解光源與光纖的耦合；理解光發射機的結構和參數；了解外調制器的工作原理。
（三）光檢測器和光接收機
理解光檢測器的類型和工作原理；了解光檢測器的特性參數；理解光接收機的構成；掌握光接收機的主要性能參數；了解光收發模塊。
（四）光纖通信器件
理解光放大器的增益系數、增益飽和、噪聲系數；理解半導體光放大器的結構、增益譜；掌握摻餌光纖放大器的工作原理及主要性能指標；理解光纖拉曼放大器的增益譜；了解光放大器的應用類型；理解耦合器的工作原理、參數；理解濾波器的類型、工作原理；掌握隔離器的主要構成及工作原理；理解環形器、衰減器的工作原理；了解連接器的結構、型號、參數及作用；了解光開關類型和工作原理。
（五）光纖通信系統的設計
了解光纖通信系統中光的特性；理解光纖通信系統的基本組成—光發射機、光纖及光接收機；理解光纖的衰減、色散以及非線性效應；掌握比特率、帶寬、中繼距離的概念及其影響因素。掌握光纖通信系統設計方法；理解數字光纖傳輸系統的技術考慮；理解數字傳輸系統中各種噪聲的功率代價；了解模擬傳輸系統中載噪比與設計參數的關系；掌握光放大器對模擬傳輸系統設計的影響；了解光互連設備作用，光端機的類型和作用。
（六）光纜線路的施工與測試
了解光纜結構、類型和技術規范；了解室外光纜的敷設形式；了解室內光纜的敷設；理解光纜接續與成端；掌握光時域反射儀、光纖熔接機、光源與光功率計等常用儀表的使用；掌握光纖傳輸線路故障檢測步驟與方法。
（七）波分復用技術
掌握波分復用技術的基本原理；理解波分復用、密集波分復用、粗波分復用系統；掌握波分復用系統中的關鍵器件的工作原理；了解波分復用系統規范。
四、備注
需使用不帶記憶功能的科學計算器。
適用專業名稱：光學工程(0803)、電子信息類（0854）光學工程方向
參考書目：
《光纖通信》（第二版）劉增基主編西安電子科技大學出版社，2008年版；《光纖通信》（第三版）Gerd Keiser著（李玉權等譯），電子工業出版社，2002年版
一、考試目的與要求
掌握光纖的傳輸理論，光纜結構及特點，無源光器件的原理及性能，光源和光檢測器的工作原理及特性，光纖放大器的工作原理及結構，光纖通信系統的組成、性能指標及系統的設計，掌握摻餌光纖放大器、波分復用技術等光纖通信新技術的原理與應用。
二、試卷結構（滿分100分）
內容比例：
1．光纖線路約30%
2．光端機約30%
3．光纖通信系統約30%
4．光纖通信新技術約10%
題型比例：
1．概念題（包括填空與簡答）約40%
2．基本理論與規律的論述及推導約20%
3．計算題約20%
4．應用題約20%
三、考試內容與要求
（一）光纖
了解光纖結構和類型；掌握數值孔徑、傳播時延、時延差的概念及影響因素；理解波動方程及其解，導波模模式；掌握光纖單模傳輸條件；掌握光纖的衰減、色散與帶寬的關系；理解色散補償方案；了解光纖傳輸中的非線性效應；了解光纖制作，光纖產品和特性。
（二）光源和光發射機
了解光源器件的結構；掌握半導體激光器（LD）和半導體發光二極管（LED）的工作原理；理解LD、LED的特性和類型；了解光源與光纖的耦合；理解光發射機的結構和參數；了解外調制器的工作原理。
（三）光檢測器和光接收機
理解光檢測器的類型和工作原理；了解光檢測器的特性參數；理解光接收機的構成；掌握光接收機的主要性能參數；了解光收發模塊。
（四）光纖通信器件
理解光放大器的增益系數、增益飽和、噪聲系數；理解半導體光放大器的結構、增益譜；掌握摻餌光纖放大器的工作原理及主要性能指標；理解光纖拉曼放大器的增益譜；了解光放大器的應用類型；理解耦合器的工作原理、參數；理解濾波器的類型、工作原理；掌握隔離器的主要構成及工作原理；理解環形器、衰減器的工作原理；了解連接器的結構、型號、參數及作用；了解光開關類型和工作原理。
（五）光纖通信系統的設計
了解光纖通信系統中光的特性；理解光纖通信系統的基本組成—光發射機、光纖及光接收機；理解光纖的衰減、色散以及非線性效應；掌握比特率、帶寬、中繼距離的概念及其影響因素。掌握光纖通信系統設計方法；理解數字光纖傳輸系統的技術考慮；理解數字傳輸系統中各種噪聲的功率代價；了解模擬傳輸系統中載噪比與設計參數的關系；掌握光放大器對模擬傳輸系統設計的影響；了解光互連設備作用，光端機的類型和作用。
（六）光纜線路的施工與測試
了解光纜結構、類型和技術規范；了解室外光纜的敷設形式；了解室內光纜的敷設；理解光纜接續與成端；掌握光時域反射儀、光纖熔接機、光源與光功率計等常用儀表的使用；掌握光纖傳輸線路故障檢測步驟與方法。
（七）波分復用技術
掌握波分復用技術的基本原理；理解波分復用、密集波分復用、粗波分復用系統；掌握波分復用系統中的關鍵器件的工作原理；了解波分復用系統規范。
四、備注
需使用不帶記憶功能的科學計算器。
激光原理
適用專業名稱：光學工程(0803)、電子信息類（0854）光學工程方向
參考書目：
周炳琨等，激光原理（第5版），國防工業出版社，2004年
一、考試目的與要求
測試考生對激光產生及傳輸的基本物理規律的掌握，并把激光的產生、操縱、傳輸的基本原理和方法應用到實際中的能力。考生應掌握激光器的基本原理、高斯光束的傳輸以及激光器的調制技術，如模式選擇、穩頻、鎖模、調Q等激光技術。
二、試卷結構（滿分100分）
內容比例：
1．激光的基本原理 約10%
2．光學諧振腔 約30%
3．高斯光束 約20%
4．電磁場與物質的相互作用 約20%
5．激光器特性的控制與改善 約20%
題型比例：
1．簡答題 約40%
2．計算題 約60%
三、考試內容與要求
（一）激光的基本原理
1. 掌握原子的自發發射、受激吸收與受激發射的物理圖景
2. 了解激光的特性
3. 了解激光產生的條件
4. 了解光學諧振腔的作用
（二）光學諧振腔
1. 掌握光學系統傳輸矩陣的計算方法
2. 掌握諧振腔的穩定性條件
3. 了解自在現模式
4. 掌握基模高斯光束的特征，如光斑半徑、等像面、遠場發散角等
5. 了解高階模式的光斑特征
6. 掌握由穩定腔求解其等價共焦腔的方法
（三）高斯光束
1. 了解高斯光束的特征
2. 掌握利用q參數處理高斯光束傳輸的方法
3. 了解高斯光束聚焦時的光束特征
4. 了解高斯光束準直時的光束特征
5. 了解高斯光束的自在現變換條件
（四）電磁場與物質的相互作用
1. 了解線型函數
2. 了解均勻加寬
3. 掌握自然加寬的機理
4. 了解碰撞加寬
5. 了解非均勻加寬
6. 掌握多普勒加寬機理
7. 掌握三、四能級系統的速率方程及能級躍遷
（五）激光器特性的控制與改善
1. 掌握橫模的選擇目的、機理及方法
2. 掌握縱模的選擇目的、機理及方法
3. 掌握頻率穩定的基本概念
4. 掌握調Q激光器的基本原理和主要調Q方法
四、備注
需使用不帶記憶功能的科學計算器
適用專業名稱：光學工程(0803)、電子信息類（0854）光學工程方向
參考書目：
周炳琨等，激光原理（第5版），國防工業出版社，2004年
一、考試目的與要求
測試考生對激光產生及傳輸的基本物理規律的掌握，并把激光的產生、操縱、傳輸的基本原理和方法應用到實際中的能力。考生應掌握激光器的基本原理、高斯光束的傳輸以及激光器的調制技術，如模式選擇、穩頻、鎖模、調Q等激光技術。
二、試卷結構（滿分100分）
內容比例：
1．激光的基本原理 約10%
2．光學諧振腔 約30%
3．高斯光束 約20%
4．電磁場與物質的相互作用 約20%
5．激光器特性的控制與改善 約20%
題型比例：
1．簡答題 約40%
2．計算題 約60%
三、考試內容與要求
（一）激光的基本原理
1. 掌握原子的自發發射、受激吸收與受激發射的物理圖景
2. 了解激光的特性
3. 了解激光產生的條件
4. 了解光學諧振腔的作用
（二）光學諧振腔
1. 掌握光學系統傳輸矩陣的計算方法
2. 掌握諧振腔的穩定性條件
3. 了解自在現模式
4. 掌握基模高斯光束的特征，如光斑半徑、等像面、遠場發散角等
5. 了解高階模式的光斑特征
6. 掌握由穩定腔求解其等價共焦腔的方法
（三）高斯光束
1. 了解高斯光束的特征
2. 掌握利用q參數處理高斯光束傳輸的方法
3. 了解高斯光束聚焦時的光束特征
4. 了解高斯光束準直時的光束特征
5. 了解高斯光束的自在現變換條件
（四）電磁場與物質的相互作用
1. 了解線型函數
2. 了解均勻加寬
3. 掌握自然加寬的機理
4. 了解碰撞加寬
5. 了解非均勻加寬
6. 掌握多普勒加寬機理
7. 掌握三、四能級系統的速率方程及能級躍遷
（五）激光器特性的控制與改善
1. 掌握橫模的選擇目的、機理及方法
2. 掌握縱模的選擇目的、機理及方法
3. 掌握頻率穩定的基本概念
4. 掌握調Q激光器的基本原理和主要調Q方法
四、備注
需使用不帶記憶功能的科學計算器
物理光學
適用專業名稱：應用物理、材料物理、微電子、光電技術
參考書目：
《物理光學與應用光學》石順祥 西安電子科技大學出版社 第二版
《大學物理學》下冊 趙近芳 北郵出版社。
一、考試目的與要求
測試考生掌握物理光學基本原理和基本方法，以及分析和解決問題的能力。考生應能夠運用基本原理和方法，初步具備解決物理光學中的基本問題的能力。
二、試卷結構（滿分100分）
物理光學 100分
題型比例：
1． 計算題 約80分
2． 分析論證題 約20分
三、考試內容與要求
1.光掌握光程 相干光 雙縫干涉
2.掌握等傾干涉
3.掌握等厚干涉 邁克爾遜干涉儀
4.掌握單縫的夫瑯和費衍射
5.了解圓孔的夫瑯和費衍射 光學儀器的分辨本領
6.掌握光柵衍射 X射線衍射
7.掌握自然光和偏振光 起偏和檢偏 馬呂斯定律 布儒斯特定律
8.掌握反射和折射時光的偏振 光的雙折射
9.掌握愛因斯坦光子理論 光電效應 康普頓效應
四、備注
需使用不帶記憶功能的科學計算器
