復試離散數學科目考試大綱
一、考查目標
理解命題邏輯的基本概念及應用方法；掌握謂詞邏輯的基本概念及應用方法；熟練掌握集合、關系、函數的基本概念及運算、論證方法；理解代數結構的基本概念及研究方法；掌握圖論的概念及應用。
二、考試形式與試卷結構
（一）試卷滿分及考試時間
復試科目和同等學力加試科目滿分均為100分，考試時間為2小時。（二）答題方式
答題方式為閉卷、筆試。
（三）試卷內容結構
內容結構為各部分知識點在試卷中所占的比例。
（四）試卷題型結構
題型結構為選擇題、計算題等各種題型的具體分值。
三、考查內容及要求
1、命題邏輯：熟練進行命題邏輯符號化，構造真值表，命題等值演算，命題推理；
2、謂詞邏輯：熟練進行謂詞邏輯符號化，量詞消去，謂詞公式等值演算；
3、集合與關系：熟練進行集合的并交差補運算，集合之間的關系判定，冪集運算，二元關系的自反、對稱、傳遞性質判定，熟練求解二元關系的自反、對稱、傳遞閉包，熟練求解偏序集中的特殊元素；
4、函數：熟練進行函數的判定，函數的性質判定，函數的復合運算；
5、代數系統：熟練掌握二元運算的性質，熟練進行群、半群和獨異點的判定，熟練求解代數系統中的特殊元素并證明；
6、格：熟練進行格的判定；
7、圖論：熟練運用圖的結點、邊、補圖的性質，熟練進行歐拉圖、漢密爾頓圖的判定，熟練求解最小生成樹、最優二元樹。
四、考試用具說明
考試需攜帶黑色鋼筆或簽字筆答題。
復試單片機原理科目考試大綱
一、考查目標
熟悉和掌握單片機的結構、工作原理、指令系統、程序設計及系統擴展方法等；考察學生對51單片機基本原理的掌握，考察學生對匯編語言掌握程度，考察學生是否初步具有以單片機為核心進行控制系統設計和開發的能力，并具備單片機擴展接口設計能力；考察學生匯編語言編程技術及其應用的了解程度，了解匯編語言特點，了解匯編語言開發程序流程。
二、考試形式與試卷結構
（一）試卷滿分及考試時間
復試科目滿分為100分，考試時間為2小時。
（二）答題方式
答題方式為閉卷、筆試。
（三）試卷內容結構
51單片機結構及工作原理 20%左右
51單片機指令系統及匯編語言程序設計30%左右
51單片機的硬件資源 30%左右
51單片機人機交互接口設計與應用20%左右
（四）試卷題型結構
客觀題：填空題10%左右，判斷題10%，選擇題20%左右；
簡答題30%左右；
綜合應用30%左右；
三、考查內容及要求
考生應具有較好的模擬電子和數字電子技術基礎，熟練掌握單片機結構和原理，并具有初步單片機程序設計能力。具體內容包括：
（1）了解計算機中的二進制、十進制、十六進制數之間相互轉換方法，熟悉51單片機的基本組成和功能、51單片機外部引腳，熟悉51單片機的內部結構。
（2）51單片機指令系統及匯編語言程序設計基礎，熟悉51單片機指令格式、指令的字節數和指令的分類。熟悉典型偽指令，熟悉51單片機各種尋址方式。掌握順序結構和循環結構的匯編語言程序設計。
（3）了解51單片機I/O口的作用，熟悉51單片機的內部并行I/O口和其應用，掌握I/O口的第二功能。
（4）了解51單片機中斷系統定義，掌握中斷控制和中斷優先級結構，了解各中斷響應地址，掌握中斷系統的初始化。
（5）了解51單片機的定時器/計數器的寄存器結構及工作原理，掌握定時器/計數器的初始化過程，熟悉定時器/計數器的四種工作方式，掌握端口發出連續方波的匯編程序設計。
（6）了解51單片機串行通信相關概念，掌握51單片機串行接口控制字，了解51單片機串行通信的工作方式。
（7）了解51單片機人機交互接口設計與應用，了解LED數碼管的字形碼，了解LED數碼管和LCD液晶顯示器的工作方式特點，并掌握典型電路設計，了解鍵盤接口類型，掌握矩陣式鍵盤鍵位置的判別方法，熟悉鍵盤的防抖技術，熟悉鍵盤的掃描和中斷工作方式。
四、考試用具說明
考試需攜帶黑色鋼筆或簽字筆答題，繪圖可以用鉛筆，考試過程中可以使用計算器計算。
復試電子技術科目考試大綱
一、考查目標
了解電子技術的基本概念，掌握模擬電子技術和數字電子技術的基本分析方法和設計方法；掌握模擬電路中分立元件電路的靜態工作點分析和微變等效電路法求解基本放大電路動態參數的計算方法；掌握理想運算放大電路在比例、求和等線性應用和在比較器等非線性應用的分析方法。能夠應用中小規模集成電路的知識進行組合電路的分析與設計；掌握電子技術綜合應用系統的分析與計算方法。
二、考試形式與試卷結構
（一）試卷滿分及考試時間
滿分為100分，考試時間為2小時。
（二）答題方式
答題方式為閉卷、筆試。
（三）試卷內容結構
模擬電路部分50%
數字電路部分50%
（四）試卷題型結構
客觀題：填空題、選擇題及判斷題20%左右
主觀題：
分析計算60%左右；
綜合應用20%左右
三、考查內容
考生應具有較好的電子技術基礎，熟練掌握模擬電子技術基礎、數字電子技術基礎的基本概念和電路的分析、設計方法。具體內容包括：
模擬電子技術部分：
（1）、掌握二極管和三極管的基本特性。
（2）、掌握單管放大電路靜態工作點的估算和用微變等效電路法分析計算單管共射放大電路的動態特性。
（3）、掌握反饋基本概念、負反饋對放大電路性能的影響、反饋組態的判別及負反饋放大電路的分析計算。
（4）、掌握集成運放比例、求和運算電路的分析方法；掌握過零比較器、單限比較器、滯回比較器電路的傳輸特性、門限值及輸入輸出關系的分析方法。
（5）、掌握RC正弦波振蕩電路、LC電感三點式振蕩電路、LC電容三點式振蕩電路的相位判別條件及振蕩頻率計算方法。
數字電子技術部分：
（1）、掌握由與、或、非等基本門電路構成的組合電路的分析與設計方法。
（2）、掌握應用譯碼器、數據選擇器等常用中規模集成電路進行組合邏輯電路的分析與設計方法。
（3）、掌握基本SR觸發器、JK觸發器、D觸發器的邏輯符號、特性方程和狀態轉換圖，能根據時鐘信號及輸入信號波形完成輸出波形圖的繪制。
（4）、掌握由常用的十進制或十六進制集成計數器構成任意進制計數器的分析和設計方法。
（5）、掌握半導體存儲器的種類、特點，掌握半導體存儲器存儲容量擴展的兩種方法，并能夠用存儲器實現組合邏輯函數。
四、考試用具說明
考試需攜帶計算器、直尺、黑色簽字筆答題，繪圖可以用鉛筆。
復試數據庫系統概論科目考試大綱
一、考查目標
掌握數據庫的基本概念，原理和理論；掌握經典數據模型及關系代數、關系演算、函數依賴、關系規范化等理論；掌握基本的數據庫設計理論，方法，技術和工具；具有數據庫應用開發和SQL實用技術；熟悉數據庫管理系統實現的理論，技術，方法和機制；清楚數據庫系統的現狀與趨勢。
二、考試形式與試卷結構
（一）試卷滿分及考試時間
復試科目和同等學力加試科目滿分均為100分，考試時間為2小時。
（二）答題方式
答題方式為閉卷、筆試。
（三）試卷內容結構
基本概念：5%左右
關系數據庫：20%左右
關系數據庫標準語言：25%左右
數據庫設計：10%左右
關系數據庫理論和關系查詢優化：10%左右
數據庫恢復和安全技術：10%左右
數據庫完整性：10%左右
其它：10%
（四）試卷題型結構
客觀題：填空題20%左右，選擇題20%左右；
證明問答：10%左右；
分析計算：40%左右
綜合應用：10%左右
三、考查內容及要求
1、數據庫基本概念
2、關系數據庫
3、關系數據庫標準語言SQL
4、關系系統及其查詢優化
5、關系數據理論
6、數據庫設計
7、數據庫恢復技術
8、并發控制
9、數據庫安全性
10、數據庫完整性
1、基本概念
數據庫系統概述：數據、數據庫、數據庫管理系統、數據庫系統、數據庫系統的特點等基本概念的定義與理解。
數據模型：層次、網狀、關系、E-R模型等的構造形式及特點。重點是關系及E-R模型，要求熟練掌握其概念、技術及建模方法。
數據庫系統結構：數據庫系統的三級模式與二級映象。
2、關系數據庫
掌握關系模型的數學定義，關系模型、關系模式、關系數據庫等基本概念；掌握關系代數的九種運算，即專門關系運算能熟練運用；掌握關系元組演算，并能熟練運用和關系代數的等價轉換；
3、關系數據庫標準語言SQL
掌握SQL的概貌及特點；掌握各類SQL語句的語法構成、語義與功能，特別是Select語句的不同應用方法。包括基本的定義及修改，索引的建立和刪除；掌握SQL的數據操縱，連接查詢，嵌套查詢，庫函數的應用；了解視圖的定義，視圖的查詢，視圖的更新及視圖的優點。
4、關系系統及其查詢優化
掌握關系系統的基本概念，關系系統的分類，關系數據庫系統的查詢處理及其優化方法。查詢優化包括概念，優化的一般策略，關系代數等價變換規則，關系表達式的優化算法，通過實例達到掌握和運用。
5、關系數據理論
掌握關系數據庫理論提出的背景，對給定的數據如何改造數據模型；掌握函數依賴的定義：函數依賴中的部分函數依賴、完全函數依賴、傳遞函數依賴；對給定的實際問題可以確定函數依賴；掌握碼的定義，對實際問題可以確定碼；掌握1NF，2NF，3NF，BCNF的定義，對給定的關系模式可以確定屬于什么級范式。
6、數據庫設計
掌握數據庫和信息系統，數據庫設計的特點，數據庫設計方法簡述，數據庫設計步驟；實際問題的需求分析；數據抽象和局部視圖規劃設計，局部E-R圖到全局E-R圖的合并、視圖的集成；局部E-R圖、E-R圖向數據模型的轉換；數據庫的物理設計以及應用實例等。
7、數據庫恢復技術
掌握事務的概念及特征、數據轉儲與日志等恢復的實現技術、故障恢復策略等。
8、并發控制
掌握并發控制的基本概念，并發控制與實現技術，尤其是封鎖技術的實施等。
9、數據庫安全性
掌握計算機系統的三類安全性問題以及數據庫安全性控制的基本技術。
10、數據庫完整性
掌握完整性約束條件及完整性控制。
四、考試用具說明
考試需攜帶黑色鋼筆或簽字筆答題。
